BS QC 750001-1986 电子元器件质量评定协调体系.半导体分立器件.空白详细规范.信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管
作者:标准资料网 时间:2024-04-27 15:01:56 浏览:8416
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【英文标准名称】:Specificationforharmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents-Semiconductordiscretedevices-Blankdetailspecification-Signaldiodes,switchingdiodesandcontrolledavalanchediodes
【原文标准名称】:电子元器件质量评定协调体系.半导体分立器件.空白详细规范.信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管
【标准号】:BSQC750001-1986
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1986-11-15
【实施或试行日期】:1986-11-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:详细规范;统计质量控制;质量控制;规范(验收);质量评估;质量评估;资格鉴定;电子设备及元件;认可试验;质量保证体系;半导体器件;开关电路;信号二极管;雪崩二极管;二极管;半导体;检验;评估的质量
【英文主题词】:Blankforms;Components;Detailspecification;Diodes;Discretedevices;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Forms(paper);Inspection;Integratedcircuits;Marking;Measurement;Qualityassessment;Qualityassurance;Ratings;Regulatordiode;Semiconductordevices;Semiconductors;Signaldiodes;Specification(approval);Switchingdiodes;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40;L00
【国际标准分类号】:31_080_10
【页数】:12P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:电子元器件质量评定协调体系.半导体分立器件.空白详细规范.信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管
【标准号】:BSQC750001-1986
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1986-11-15
【实施或试行日期】:1986-11-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:详细规范;统计质量控制;质量控制;规范(验收);质量评估;质量评估;资格鉴定;电子设备及元件;认可试验;质量保证体系;半导体器件;开关电路;信号二极管;雪崩二极管;二极管;半导体;检验;评估的质量
【英文主题词】:Blankforms;Components;Detailspecification;Diodes;Discretedevices;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Forms(paper);Inspection;Integratedcircuits;Marking;Measurement;Qualityassessment;Qualityassurance;Ratings;Regulatordiode;Semiconductordevices;Semiconductors;Signaldiodes;Specification(approval);Switchingdiodes;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40;L00
【国际标准分类号】:31_080_10
【页数】:12P;A4
【正文语种】:英语
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